二十二碳烯酸（２２－ＴＡ）粉末样品及其ＬＢ膜退火前后的Ｘ光电子能谱，研究了基分子结构的热稳定性；采用Ｘ光小角衍射测量了２２－ＴＡＬＢ膜的晶状主其常温下随时间的变化，分析了这种热诱导变化的产生原因。
正文
二十二碳烯酸（22－TA）粉末样品及其LB膜退火前后的X光电子能谱，研究了基分子结构的热稳定性；采用X光小角衍射测量了22－TALB膜的晶状主其常温下随时间的变化，分析了这种热诱导变化的产生原因。
二十二碳烯酸（２２－ＴＡ）粉末样品及其ＬＢ膜退火前后的Ｘ光电子能谱，研究了基分子结构的热稳定性；采用Ｘ光小角衍射测量了２２－ＴＡＬＢ膜的晶状主其常温下随时间的变化，分析了这种热诱导变化的产生原因。
二十二碳烯酸（22－TA）粉末样品及其LB膜退火前后的X光电子能谱，研究了基分子结构的热稳定性；采用X光小角衍射测量了22－TALB膜的晶状主其常温下随时间的变化，分析了这种热诱导变化的产生原因。